Applications
| SIMS |
|
SIMS est la technique d'analyse de surface la plus sensible permettant de déterminer la composition de la surface, l'analyse des contaminants et l'analyse en profondeur des couches atomiques supérieures de tout échantillon solide. Appliqué à l'analyse des quelques premiers microns d'une surface, les systèmes Hiden SIMS permettent l'analyse en profondeur avec une résolution de 5 nanomètres. La station de travail Hiden SIMS permet des analyses SIMS en mode statique et dynamique de haute performance pour obtenir des informations détaillés sur la composition de la surface d'un solide et obtenir des profiles en profondeur. Les instruments SIMS de chez Hiden sont également équipé pour l'imagerie élémentaire permettant d'obtenir une cartographie de la surface de son échantillon élément par élément avec une résolution inégalée. Tout un tas de pièces détachées "prête à monter" sont également disponible pour utiliser avec d'autres systèmes d'analyse SIMS déjà existant. Produits Brochures
Attention : Vous devez être connectés pour avoir accès aux documents suivants. Notes d'Application
Informations Techniques
Spécifications
Présentations
|
SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometers (1675K)