Catalogue des produits

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Hiden XBS MBE, Système de Mesure et de Contrôle de la Vitesse de Dépôt pour Epitaxie par Jets Moléculaire (EJM)- Analyseur à Faisceaux Croisés (XBS)

XBS MBE deposition rate monitor

Spectromètres de masse quadrupolaires à triple filtre avec XBS pour analyses précises de gaz et applications scientifiques.

  • Mesure et contrôle de flux pour EJM/MBE
  • Etudes de faisceaux moléculaires
  • Analyse de multiples sources à faisceaux croisés
  • Analyseur de gaz résiduels de haute performance
  • Désorption / études de dégazage / cycles d’étuvage
  • Contaminants de l’enceinte / de gaz de procédés
  • Monitorage de flux des cellules à effusion et
    des sources à bombardement électronique

 

Caractéristiques des spectromètres de masse Hiden XBS pour les applications scientifiques, les analyses des procédés sous vide et les mesures de flux pour EJM-MBE:

 

  • Grande sensibilité, détection améliorée du produit pur (100%) à 5 ppb, domaine de masse jusqu’à 510 uma
  • Stabilité améliorée sur le long terme (moins de ±0,5% de variation globale pic à pic sur 24 h)
  • Source de faisceaux d’ions croisés, angle variable entre +/- 35° par rapport à l'axe transversal
  • Contrôle de la source d’ions pour une ionisation douce et spectrométrie de masse APMS
  • Sensibilité accrue dans le cas des masses élevées, étalonnage automatique de l’échelle de masse
  • Ouverture du faisceau configuré: 2 mm
  • Résistance à la contamination accrue par pré-filtrage RF
  • Enveloppe intégrale compatible UHV refroidie à l’eau
  • Limites de détection jusqu’à 30 ions / s lors des études de faisceaux moléculaires
  • Contrôle de la vitesse de croissance inférieure ou égale à 1Å / min
  • Logiciel MASsoft de contrôle, compatible Windows™ , via une interface RS232, RS485 ou un réseau Ethernet LAN

 

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