Produkty

Spektrometry mas w analizie gazów

Analizatory gazów pracujące metodą spektrometrii mas w czasie rzeczywistym znajdujące zastosowanie w różnorodnych aplikacjach

QGA Standardowy analizator gazów
Compact Gas Analysers Spektrometry mas do standardowych aplikacji
HPR-20 R&D Badawczy spektrometr mas do zaawansowanych analiz gazów
HPR-20 EGA Spektrometr mas ze sprzężeniem gotowym do podłączenia do analizatora TGA w celu analizy wydzielanych gazów
HPR-20 TMS Spektrometr mas do rejestracji szybkich zmian w strumieniu gazów, w tym do rejestracji krótko żyjących indywiduów
HPR-20 DLS Spektrometr do analiz z ultra-wysoką rozdzielczością i czułością izotopów wodoru i lekkich gazów
HPR-20 EPIC Spektrometr mas z trybem jonizacji uderzeniami elektronów (EA-MS)
HPR-20 S1000 Spektrometr mas z zakresem do 1000 amu
QIC BioStream Wielostrumieniowe analizatory gazów/par do kontroli przebiegu procesu biodegradacji polimerów, fermentacji, innych biochemicznych procesów z wydzieleniem gazów
QIC MultiStream Zintegrowany spektrometr mas wraz z zaworem do wieloskładnikowej/wielostrumieniowej analizy gazów
HPR-40 DSA Spektrometr masowy z wlotem membranowym do pomiaru rodzaju i ilości gazów, substancji lotnych w cieczach
HPR-40 DEMS Cele do różnicowej elektrochemicznej spektrometrii mas (DEMS) (w celu analizy reagentów i produktów reakcji elektrochemicznych w czasie rzeczywistym)
HPR-60 MBMS Spektrometr mas dedykowany do wiązek molekularnych (do analiz jonów i rodników), do analizy plazmy pod ciśnieniem atmosferycznym
HPR-70 Spektrometr MS z dyskretnym układem pobierania niewielkich ilości gazów
HPR-90 Kompletny automatyczny system do analizy gazów w żarówkach
QIC Series Inlets Systemy poboru gazów (nisko-, wysokociśnieniowe-, z wielu źrodeł, z automatycznym przełączaniem pomiedzy źródłami, grzane, membranowe i wiele innych)

Spektrometry mas w katalizie i analizie termicznej

Zautomatyzowane sprzężone układy reaktor – spektrometr masowy – układ dozowania gazów dedykowane do badań katalizatorów

CATLAB-PCS Zautomatyzowany system mikroreaktor/spektrometr masowy
CATLAB-FB Sprzężony spektrometr mas z horyzontalnym piecem i układem dozowania gazów do analiz katalizatorów
HPR-20 TMS Spektrometr mas do rejestracji szybkich zmian w strumieniu gazów, w tym do rejestracji krótko żyjących indywiduów
HPR-20 EGA Spektrometr mas ze sprzężeniem gotowym do podłączenia do analizatora TGA w celu analizy wydzielanych gazów
SpaciMS Unikalny spektrometr mas do analizy przestrzennej nośników katalitycznych z układem 16 kapilar pobierajacych gazy z całego przekroju monolitu wraz z rejestracją temperatury z kontrolą i regulacją miejsca poboru gazów/sygnałów
TPD Workstation Komora UHV wyposaożona w grzany stolik, sprzężona z wysokiej czułości i czasowo – i wysokorozdzielczym spektrometrem mas do pomiarów TPD
3F-PIC Analizator gazów do rejestracji szybkich zmian w eksperymentach UHV
HPR-40 DEMS Cele do różnicowej elektrochemicznej spektrometrii mas (DEMS) (w celu analizy reagentów i produktów reakcji elektrochemicznych w czasie rzeczywistym)

Spektrometry mas w badaniach cienkich filmów, plazmy i powierzchni materiałów

Analizatory RGA, jonów w plazmie, w analizie powierzchni i SIMS

HPR-30 Analizator gazów resztkowych w kontroli procesów próżniowych oraz do diagnostyki próżni
EQP Spektrometr do analizy plazmy pod kątem cząstek obojętnych, dodatnio i ujemnie naładowanych jonów oraz rodników
HPR-60 MBMS Spektrometr mas dedykowany do wiązek molekularnych (do analiz jonów i rodników), do analizy plazmy pod ciśnieniem atmosferycznym
PSM Analizator mas i energii do diagnostyki plazmy
ESPion Sonda Langmuira do pomiaru właściwości plazmy
IMP-EPD System do kontroli trawienia jonowego i optymalizacji procesu
XBS Kontrola szybkości epitaksji z wiązek molekularnych
TPD Workstation Komora UHV wyposaożona w grzany stolik, sprzężona z wysokiej czułości i wysokiej rozdzielczości (w czasie) spektrometrem mas do pomiarów TPD
SIMS Workstation Samodzielny, wszechstronny ultrawysokopróżniowy system SIMS/SNMS do charakterystyki cienkich filmów na powierzchni, metodą statyczną, profilowania w głąb i obrazowania
Compact SIMS Zintegrowany analizator SIMS zoptymalizowany do profilowania w głąb w skali nanometrów
AutoSIMS Zautomatyzowany system do analizy powierzchni metodą SIMS
EQS SIMS Analyser Detektor jonów wtórnych dodatnich i ujemnych emitowanych z próbek stałych, z jednoczesną rejestracją energii wiązki
MAXIM Najnowocześniejszy spektrometr do statycznej i dynamicznej analizy SIMS i SNMS
IG5C Działo cezowe 5keV będące źródłem jonów pierwotnych do analizy powierzchni w warunkach  UHV
IG20 Działo argonowe lub tlenowe 5KeV jako źródło jonów pierwotnych do analizy powierzchni w warunkach UHV

Spektrometry masowe do analizy gazów resztkowych

Analiza gazów i par w komorach i procesach próżniowych

RGA Series Analizatory RGA do analizy związków obecnych w komorze próżniowej lub wydzielanych podczas procesu
Ion Source Options Szeroka oferta źródeł z jonizacją elektronową w zależności od aplikacji
HMT Analizator RGA pracujący w dwóch trybach do diagnostyki próżni i monitorowania procesów próżniowych
HAL 201 RC Analizator gazów resztkowych dedykowany do pracy w UHV
HALO 201 MBE Analizator RGA do kontroli procesów epitaksji z wiązek molekularnych
HALO Do analiz gazów resztkowych
3F-PIC / 1000 Series PIC Spektrometr masowy do szybkich stanów przejściowych w warunkach UHV
EPIC / EPIC 1000 Series RGA do analizy cząstek obojętnych, jonów i rodników w warunkach UHV
IDP / IDP 1000 Series RGA do analizy jonów, rodników i cząstek obojętnych w badaniach desorpcji w warunkach UHV
3F Series 1000 RGA RGA do pomiar gazów resztkowych z ultrawysoką rozdzielczością i w szerokim zakresie mas
XBS Monitorowanie szybkości osadzania MBE
DLS Series Kwadrupolowy spektrometr masowy wysokiej rozdzielczości
HAL 101X Do kontroli reakcji termojądrowych w Tokamakach/torusach

Spektrometry mas w analizach powierzchni

Analiza powierzchni, analiza powierzchni w warunkach UHV, SIMS & SNMS

Compact SIMS Zintegrowany analizator SIMS zoptymalizowany do profilowania w głąb w skali nanometrów
AutoSIMS Zautomatyzowany system do analizy powierzchni metodą SIMS
SIMS Workstation Samodzielny, wszechstronny ultrawysokopróżniowy system SIMS/SNMS do charakterystyki cienkich filmów na powierzchni, metodą statyczną, profilowania w głąb i obrazowania
EQS SIMS Analyser Detektor jonów wtórnych dodatnich i ujemnych emitowanych z próbek stałych, z jednoczesną rejestracją energii wiązki
MAXIM Najnowocześniejszy spektrometr do statycznej i dynamicznej analizy SIMS i SNMS
IG5C Działo cezowe 5keV będące źródłem jonów pierwotnych do analizy powierzchni w warunkach  UHV
IG20 Działo argonowe lub tlenowe 5KeV jako źródło jonów pierwotnych do analizy powierzchni w warunkach UHV